Estudio no destructivo de metales: técnicas basadas en rayos X característicos (XRF, EDX Y PIXE)

Abstract

Las espectroscopías basadas en la detección de los rayos X característicos de los materiales, Fluorescencia de Rayos X (XRF), la de Energía Dispersiva de rayos X (EDX) y la de Emisión de rayos X Inducida por Protones (PIXE), son las técnicas no destructivas más adecuadas para la caracterización de objetos metálicos o compuestos de metales. En este trabajo se presenta una comparación entre estas técnicas considerando los aspectos comunes, las diferencias, así como los alcances y limitaciones de estas metodologías. Asimismo, se discuten algunos aspectos como la profundidad efectiva de análisis y la factibilidad de realizar un análisis en profundidad de la composición del objeto de estudio con el fin de establecer el grado de homogeneidad superficial y la validez de un análisis convencional.