Estudio no destructivo de metales: técnicas basadas en rayos X característicos (XRF, EDX Y PIXE)

Autores/as

  • José Luis Ruvalcaba Sil

Palabras clave:

EDX, FRX, PIXE, técnicas iones, metales

Resumen

Las espectroscopías basadas en la detección de los rayos X característicos de los materiales, Fluorescencia de Rayos X (XRF), la de Energía Dispersiva de rayos X (EDX) y la de Emisión de rayos X Inducida por Protones (PIXE), son las técnicas no destructivas más adecuadas para la caracterización de objetos metálicos o compuestos de metales. En este trabajo se presenta una comparación entre estas técnicas considerando los aspectos comunes, las diferencias, así como los alcances y limitaciones de estas metodologías. Asimismo, se discuten algunos aspectos como la profundidad efectiva de análisis y la factibilidad de realizar un análisis en profundidad de la composición del objeto de estudio con el fin de establecer el grado de homogeneidad superficial y la validez de un análisis convencional.

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Publicado

2011-07-15

Cómo citar

Ruvalcaba Sil, J. L. (2011). Estudio no destructivo de metales: técnicas basadas en rayos X característicos (XRF, EDX Y PIXE). Publicaciones Digitales ENCRyM, 3(1). Recuperado a partir de https://revistas.inah.gob.mx/index.php/digitales/article/view/4672

Número

Sección

Caracterización y estudios técnicos